内存时序高说明系统的性能较低,延迟大,故会对电脑的性能产生一定的影响。
内存定时较低的数字通常意味着更快的性能。决定系统性能的最后一个因素是实际延迟,通常以纳秒为单位。
记忆体计时是描述记忆体模组效能的参数。它通常存储在存储模块的spd中,简称cl值,它是记忆的重要参数之一。一些品牌的内存会在内存模块的标签上打印cl值,目前一般较好的内存模块都会在参数中标注cl值。
一般来说,时序是决定存储器性能的一个参数,但并不意味着时序越低,性能越好。它还与存储容量和频率有关,只能说在相同容量和频率的两个存储器中,定时越低,性能越好。
扩展资料:
内存时序具体含义:
存储器定时是描述存储器模块性能的参数,通常存储在存储器模块的spd中,与通用编号“a-b-c-d”对应的参数是“cl trcd trp tras”,其含义如下:
1、cl:列寻址所需的时钟周期(表示延迟的长度)
的确,在相同的频率下,cl值越小,存储模块的性能越好,随着存储模块频率的增加,ddr1-4的cl值越来越大,但其实际cl延迟时间几乎没有变化。这意味着cl值越大,存储模块的cl延迟越大,存储模块的cl延迟越差,相反ddr1-4的cl值越高,上升频率越高。
2、tRCD:行寻址和列寻址时钟周期的区别。
TrCD的值对记忆的最大频率有最大的影响,内存模块想达到高频,但如果不能提高电压,放松cl值,只能增加trcd值。
今天的DDR4一般是1.2V。如果你想让CL看起来很好,如果你想让内存模块被超频到一个更高的水平,那么就增加TRCD,如果你想要灯光效果,那么就增加计时。因此,大的trcd并不意味着坏的存储模块,相反,它意味着存储模块可以超过很高的频率。
3、TRP:下一个周期前预充电所需的时钟周期。
虽然trp的影响会随着银行的频繁经营而增加,但其影响也会因银行间的交叉经营和指令供给而减弱。trp的放松有利于提高行地址激活和关闭的命中率和准确性,放宽trp,使内存模块更加兼容。
4、tras:存储一行数据时,从操作开始到寻址结束的总时间段。
此操作不经常发生,仅在内存空闲或新任务开始时使用。tras值太小会导致数据错误或丢失,值太大会影响内存性能,如果内存模块的负载较大,tras的值可以稍微放宽。
参考资料来源:百度百科--内存时序。
内存时序越低性能越好
不过内存频率越高的话相应的时序也就会越高。
同频率的情况下时序越低越好
内存时序越低性能越好
不过内存频率越高的话相应的时序也就会越高。
同频率的情况下时序越低越好
延迟越低,速度越快。
一般内存是频率越高,延迟越大。
威刚红色威龙DDR2
800+
CL4-4-4-12,标是这样标的,但一般在800M频率都是在5-5-5-15,在667M时有可能4-4-4-12。
芝奇DDR2
800
CL5-5-5-15应该这个好。
我用的金邦黑龙条DDR2
800,是为数不多的800M频率时序为4-4-4-12的内存。
内存好不好,关键看颗粒,目前用镁光颗粒的内存最好。
时序可以浅显的理解为内存的数据刷新速度。
每X个周期刷新一次,以便填充新的数据。
时序越小自然越好
普通的DDR3
1600内存条一般都是CL9,也有CL10/11的。
而DDR3
2133的同样品牌同样价格的内存条,如果是延迟同样还是CL9的,那么他的售价要贵上一半。
因为内存频率增加了,而时序没有增加。
我们可以看到,很多厂家都推出了价格很低的DDR3。
2400内存条,但是值得注意的是,这些廉价的内存时序是CL11,时钟周期比率是2T,电压是1.65V(普通是1.5V,低压1.35V)可以说除了带宽,一无是处。
默认情况下,内存时序与稳定性没有太大关系。
对于内存超频来说,内存的体质(时序和耐不耐高电压)就是影响稳定性的关键。